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详细信息
 类型:   日本日置HIOKI  尺寸:   3505/3506 ((mm))
 电源:   电容测试仪   

日本日置HIOKI 3505高速电容测试仪测试仪 3505/ 3506HIOKI 3505高速电容测试仪对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试反复测量精度更高,最适合生产线校正维修功能,减低由环境的温度变化影响测量导线的过长引起的阻抗变化,阻抗补正功能比测仪的设定值和测定值的同步显示2ms的高速测量;1kHz,1MHz 测量根据BIN的测定区分容量比测仪和触发器同步输出功能日本日置HIOKI 3505高速电容测试仪输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量目的,不同型号有不同的探头/测试夹具选件日本日置HIOKI 3505高速电容测试仪基本参数测量参数C(电容),D(损耗系数tanδ), Q (1/tan δ)测量范围C:0.00000pF ~ 15.0000mFD:0.00001 ~ 1.99999Q:0.0 ~ 19999.9基本确度(代表值)C:±0.14% rdg.D:±0.0013※测定确度= 基本确度× B× C× D× E, B~Eは各系数测量频率3505: 1kHz, 100kHz, 1MHz,3506: 1kHz, 1MHz测量信号电平500mV, 1V rms输出电阻1Ω (在2.2mF以上的测量范围: 1kHz;在 22nF以上的测量范围: 100kHzs), 20Ω 上述测量范围以外)显示LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定)测量时间代表值: 2.0 ms ( FAST)※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同机能BIN 分选测量功能, 触发同步测量, 设定测量条件保存功能, 比较器测量功能,平均机能, Low-C抵抗机能, 震动机能,电流检测功能,输入电压检测机能,EXT I/O输入/输出, RS-232C接口, GP-IBイ接口电源AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, 最大40VA体积及重量260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg附件电源线× 1, 电源备用保险丝× 1HIOKI 3505高速电容测试仪选配件SMD测试冶具 9699底部 SMD电极操作频率:DC~120MHz测量对象尺寸:W:1.0~4.0mm H:1.5mmSMD测试冶具 9677侧面 SMD 电极操作频率:DC~120MHz测量对象尺寸:3.5±0.5mmSMD测试冶具 9263DC~5 MHz, 直结型测试冶具 9262DC~5 MHz, 直结型测试冶具 9261DC~5 MHz, 1 m针型测试探头 9143DC~5 MHz, 1 m4端子测试探头 9140DC~100 kHz, 1 m
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