功能描述     #8226;  #8226;  几秒钟的测量时间#8226; 节约您的时间和成本紧凑简单的设计#8226;通过廉价的入门设备能够节约您的成本和节约您测量室和现场测量场地的空间高精度的测量结果#8226; 垂直分辨滤达到0.1nm#8226; 紧凑可靠的设计#8226; 来自Mahr的完美测量软件 MarSurf WS 1 给您带来完美的竞争优势#8226; 创新的光学表面粗糙度测量技术#8226;卓越的防颤抖功能  (专利认证)#8226; 微型传感器#8226; 适用于车间和实验室    描述高精度,无接触的表面粗糙度测量如今，随着新的测量技术和材料的出现, 表面粗糙度测量技术也发生新的变化.传统的轮廓触针式测量模式往往不能将三维的以及一些软薄壁材料的粗糙度值测量出来。所以无接触的光学测量能够满足广大客户的需要甚至能够完成高精度的测量.MarSurf WS 1 能够满足粗糙度测量的所有需要:#8226;垂直分辨滤达到0.1nm#8226;几秒钟的时间即可完成三维的测量和评定#8226; 简单小巧的设计适用于车间和实验室使用#8226; MarSurf XT 20软件#8226;扫描软件建立在强大的MarWin平台上应用MarSurf WS 1适用于精密测量室和车间. 当测量不同类型的表面粗糙度时光学测量能够迅速有效的得出测量结果. .The MarSurf WS 1 创新的测量评定软件应用范围十分广泛，高反射性的和低反射性的粗糙度工件皆可测量。例如, 超高精度的垂直分辨滤能够允许你使用我们的仪器对光学元件进行测量，精度能够达到纳米级。 你也可以测量由微机械质地组成的粗糙度。#8226; 玻璃#8226; 纸张#8226; 清漆#8226; 金属#8226; 塑料#8226; 衣料#8226; 液体均能测量.MarSurf XT 20 扫描软件是建立在标准的Marwin软件平台上，您可以通过测量过程中体会强大的分析功能MarSurf XC 20 轮廓测量软件.