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详细信息
 类型:   SE1200  示值变动性:   日本KOSAKA ((%))

特性:- Skidless 测量方式  可采用 skidless 或 skidded 方式来测量工件表面粗糙度,对于长度短、  狭小且深的表面可选用 skidless 来测量- 测量设定可记忆  可预设9组测量设定参数,并以一键操作调出使用或显示与打印出来- 有相比其它同类仪器的最高解析度:0.008um(便携型)- 符合多种国际标准  JIS、ISO、ASME、DIN等- 可根据工件状况选择不同探针来配合测量要求- 可自动执行测量命令并即时打印结果,完成测量之后探针能自动返回- 可加标注或编号于数据页上- 内置统计模式、平均模式输出测量数据的最大/最小/平均/偏差值等- 内置快速充电电池,电池量显示在屏幕上。- RS232C介面- 探针位置超出范围峰鸣声提示技术参数: 行程长度 25 mm 线性精度 0.8 um / 10 mm 测量范围/解析度 520 um / 0.008 um 测量方式 skidless / skidded 二种 探针/滑动 R5 um 钻石探针 / R40 mm 蓝宝石护套 可测试参数 Ra/Ra75, Ry/Rz, Rz, tp, Sm, Rt, Rp, Rv, Pc, HSC, Rq/RMS, RmaxD, R3z, Rt, Rmax, Rsm, Rmr(c), R&C, Rsk, Rku, Rk, Mr1, Mr2, Rpk, Rvk, A1, A2, Pa, Pz, Pp, Pv, Pq, PSm, Pmr(c) P&c, Pt, Pak, Pku, Wa, Wz, Wp, Wv, Wq, Wsm, Wmr(c), W&c, Wt, BAC, ADC, P/R/W 轮廓 滤波器选择 Gauss, 2RC(75%), ISO 13565-1(DIN4776) 切断系数(λc) c: 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, R+W   λs: ISO 3274(96)       λc-λf: 0.08 - 0.8, 0.25 - 2.5, 0.8 - 8 mm 测量长度 c x 1, 2, 3, 4, 5 / 0.08 ~ 25 mm 中任意长度 垂直放大倍数 50, 100, 200, 500, 1000, 2000, 5000, 10000, 20000, 50000,  100000 及自动设定 水平放大倍数  1, 2, 5, 10, 20, 50, 100, 200, 500, 1000,  25mm / λc, 50mm / λc 测量速度 0.2, 0.5 mm / sec 返回速度(自动) 0.2, 0.5, 1 mm / sec 倾斜范围选择 ±3.4°
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